APP x射線熒光能譜分析法的主要缺點(diǎn):一是該儀器為高精密儀器,一次性投資大,而且需要具有專門訓(xùn)練的專業(yè)人員從事操作和保養(yǎng)。二是需要龐大和完善的數(shù)據(jù)庫(kù)比對(duì)數(shù)據(jù),建立數(shù)據(jù)庫(kù)需要時(shí)間的積累和巨大的資金支持,在目前情況下,非政 （本文共 220 字 ） [閱讀本文] >>
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