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 GIS(氣體絕緣金屬封閉組合電器,簡稱GIS)罐體由金屬導電回路、盆式絕緣子、SF6氣體、金屬外殼組成,通過紅外檢測的手段能發(fā)現(xiàn)GIS內(nèi)部導電回路發(fā)熱等缺陷。常見發(fā)熱缺陷及原因如下:(1)內(nèi)部接觸不良。GIS罐體氣室溫度異常,熱像特征 (本文共 1214 字 , 11 張圖 ) [閱讀本文] >>