知識(shí)貝殼
知識(shí)貝殼
所屬欄目：電子衍襯
位錯(cuò)密度是研究材料形變過程和微觀結(jié)構(gòu)對(duì)力學(xué)性能影響的重要參數(shù)。測定位錯(cuò)密度的方法有二,一是X-射線方法,它是根據(jù)位錯(cuò)密度對(duì)X-射線展寬的函數(shù)關(guān)系建立起來的方法。它雖不能在測量時(shí)同時(shí)看到位錯(cuò),但它的結(jié)果反映了一定的 ......（本文共 488 字 ） [閱讀本文] >>