中子成像的氫散射校正方法

摘要： 中子成像可無損地探測樣品內(nèi)部的成份和結(jié)構(gòu)等信息，已應(yīng)用于諸多領(lǐng)域中材料的定量分析。中子成像對樣品中的含氫物質(zhì)進行定量分析時，由于氫的總散射截面大于吸收截面，散射中子會降低圖像質(zhì)量，嚴重干擾定量分析。已有的散射校正方法各自存在一定的局限性，或不適用所有樣品、或增加曝光時間或數(shù)據(jù)處理復(fù)雜等。因此，本文提出了一種新的散射校正方法—雙探測器法，并對水層樣品進行實驗驗證。結(jié)果表明，校正后... （共7頁）