TESCAN AMBER X 2
電子顯微學(xué)報(bào)
頁數(shù): 1 2024-10-15
摘要: <正>獨(dú)特的無漏磁超高分辨SEM與等離子體FIB的完美組合,同時(shí)具備高精度和高效率的特點(diǎn),為多模態(tài)材料表征和全自動(dòng)TEM樣品制備提供了最全面的解決方案TESCAN AMBER X 2搭載了Mistral~(TM)型等離子體FIB鏡筒以及第三代BrightBeam~(TM)型無漏磁超高分辨SEM鏡筒,通過TEM AutoPrep~(TM)軟件實(shí)現(xiàn)完全自動(dòng)化的TEM樣品制備,可以精... (共1頁)
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