基于改進(jìn)YOLOv8的SOP芯片缺陷檢測(cè)研究

摘要： 針對(duì)SOP芯片缺陷檢測(cè)中因缺陷特征相似、缺陷目標(biāo)小、缺陷尺度差異大造成的檢測(cè)精度低的問(wèn)題，本文提出基于改進(jìn)YOLOv8的缺陷檢測(cè)方法。通過(guò)使用SPD-Conv模塊解決卷積池化過(guò)程中的信息丟失問(wèn)題，并引入SimAM注意力機(jī)制，使模型學(xué)習(xí)三維通道中的信息，提高模型對(duì)缺陷特征的感知能力；同時(shí)使用BiFPN代替原特征提取網(wǎng)絡(luò)，使用雙向傳遞的多尺度特征融合，使模型能更好的區(qū)分擁有相似特征... （共12頁(yè)）