結(jié)合程序異構(gòu)關(guān)系圖的SDC錯(cuò)誤檢測(cè)

摘要： 隨著片上系統(tǒng)(System On Chip, SOC)集成度和規(guī)模的指數(shù)級(jí)增長(zhǎng)，計(jì)算機(jī)系統(tǒng)發(fā)生粒子翻轉(zhuǎn)后產(chǎn)生故障的可能性正在增加，其可靠性已經(jīng)成為一個(gè)越來(lái)越值得關(guān)注的問(wèn)題.在眾多的故障中，靜默數(shù)據(jù)損壞(Silent Data Corruption, SDC)是最難檢測(cè)的故障類型之一，其無(wú)法被系統(tǒng)糾錯(cuò)機(jī)制檢測(cè)，會(huì)隨著程序執(zhí)行無(wú)聲地傳播，最終破壞程序輸出.而現(xiàn)有SDC錯(cuò)誤檢測(cè)方法多... （共7頁(yè)）