基于DE-GA算法的陣列天線故障檢測(cè)方法
電子測(cè)量與儀器學(xué)報(bào)
頁(yè)數(shù): 7 2024-11-25
摘要: 為提高陣列天線故障檢測(cè)的精度,提出了一種改進(jìn)差分-遺傳(DE-GA)算法。該算法融合了遺傳(GA)算法和差分進(jìn)化(DE)算法,在基因遺傳過(guò)程中采取染色體雙交叉策略,對(duì)陷入局部陷阱的個(gè)體信息進(jìn)行重新引導(dǎo);利用自適應(yīng)權(quán)重優(yōu)化后代的選擇過(guò)程,提高算法對(duì)故障因子的靈敏性和適應(yīng)能力。本文將該算法用于陣列天線的故障檢測(cè)中,通過(guò)陣列公式建立天線的模型,對(duì)該模型的輻射方向圖進(jìn)行優(yōu)化,使其與故障... (共7頁(yè))